阻抗型石英晶體微天平檢測技術(shù)與特點(diǎn)說明

更新時(shí)間：2021-03-27

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　　阻抗型石英晶體微天平基于耗散因子檢測技術(shù)的界面跟蹤探測系統(tǒng)進(jìn)行分子與界面相互作用的研究，工作時(shí)，先將芯片放置于流動池中，將流動池固定于樣品平臺上，樣品平臺與電子單元和電腦主機(jī)連接，樣品通過蠕動泵流經(jīng)流動池中的芯片上方；

　　通過軟件設(shè)置，電子單元對芯片兩面施加一個(gè)電壓隨后斷開，芯片發(fā)生振動、產(chǎn)生電信號并傳輸回電子單元，振動的頻率和振幅記錄在軟件系統(tǒng)里；

　　當(dāng)樣品流經(jīng)芯片上方，有物質(zhì)吸附在芯片上或者將芯片上的物質(zhì)沖走時(shí)，都會改變芯片的振動狀態(tài)并被記錄下來；

　　芯片振動狀態(tài)與芯片上方物質(zhì)的改變量，包括質(zhì)量，厚度，密度和柔軟程度有關(guān)，所以軟件通過數(shù)學(xué)分析的方法可以獲取芯片上方物質(zhì)的這些變量。

　　測定吸附層質(zhì)量，并同步提供粘彈性等結(jié)構(gòu)信息。可測定多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附行為，同時(shí)可檢測分子的結(jié)構(gòu)變化以及吸附與解析的動態(tài)過程。

　　阻抗型石英晶體微天平的特點(diǎn)：

　　1．測量低、中、高頻0.02～100MHz范圍內(nèi)石英晶體諧振頻率、等效電阻。

　　2．第四代升級產(chǎn)品，頻率電調(diào)諧，機(jī)內(nèi)帶可調(diào)負(fù)載電容。

　　3．頻率數(shù)顯，阻抗指針式顯示。

　　4．頻率測量精度≤5PPM，可選配更高精度頻標(biāo)。

　　5．可選配八位頻率和四位PPM同時(shí)顯示，頻率上下限、分檔分選功能。

　　6．上下限頻率分別設(shè)置，超出范圍（不合格）時(shí)自動聲光報(bào)警。